书目信息 |
| 题名： |
超大规模集成电路测试
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| 作者： | 布什内尔, ， 阿格拉瓦尔, 著 ；蒋安平 ， 冯建华 ， 王新安 译 | |
| 分册： | ||
| 出版信息： | 北京 电子工业出版社 2005.08 |
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| 页数： | 16, 511页 | |
| 开本： | 26cm | |
| 丛书名： | 国外电子与通信教材系列 | |
| 单 册： | ||
| 中图分类： | TN470.7 | |
| 科图分类： | ||
| 主题词： | 超大规模集成电路--chao da gui mo ji cheng dian lu--测试--高等学校--教材 | |
| 电子资源： | ||
| ISBN： | 7-121-01490-4 | |
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| 200 | 1 | @a超大规模集成电路测试@Achao da gui mo ji cheng dian lu ce shi@e数字、存储器和混合信号系统@d= Essentials of electronic testing for digital@eMemory & mixed-signal VLSI circuits@f(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著@F(mei)Michael L.Bushnell,Vishwani D.Agrawal zhu@g蒋安平, 冯建华, 王新安译@Gjiang an ping,feng jian hua,wang xin an yi@zeng |
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| 306 | @a本书中文简体专有翻译版由Kluwer Academic Publishers授权电子工业出版社出版 | |
| 314 | @a责任者Bushnell规范汉译姓: 布什内尔; 编目员自译Agrawal汉译姓: 阿格拉瓦尔。 | |
| 320 | @a有书目 (第474-511页)。 | |
| 330 | @a本书本三个部分，第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、模拟测试等。 | |
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| 701 | 1 | @a阿格拉瓦尔,@Aa ge la wa er,@bV. D.@g(Agrawal, Vishwani D.),@f1943-@4著 |
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| 超大规模集成电路测试：数字、存储器和混合信号系统= Essentials of electronic testing for digital：Memory & mixed-signal VLSI circuits/(美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal著/蒋安平, 冯建华, 王新安译.-北京：电子工业出版社，2005.08 |
| 16, 511页：图；26cm.-(国外电子与通信教材系列) |
| ISBN 7-121-01490-4：CNY58.00 |
| 本书本三个部分，第一部分是测试基础，介绍了测试的基本概念、测试设备、测试经济学和故障模型。第二部分是测试方法，详细论述了组合和时序电路的测试生成、存储器测试、模拟与混合信号测试等。第三部分是可测试性设计，包括扫描设计、BIST、模拟测试等。 |
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正题名：超大规模集成电路测试
索取号：TN470.7
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