文献检索列表 |
| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 | 预约/借 |
| 1 | TN470.7 | 超大规模集成电路测试 | (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Ag | 电子工业出版社 | 2005.08 | 预约/借 |
| 2 | TN470.7/1 | 超大规模集成电路测试---数字,存储器和混合信号系统 | (美)布什内尔 著 | 电子工业出版社 | 2005.8 | 预约/借 |
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| 序号 | 索取号 | 正题名 | 责任者 | 出版者 | 出版日期 | 预约/借 |
| 1 | TN470.7 | 超大规模集成电路测试 | (美) Michael L. Bushnell, Vishwani D. Ag | 电子工业出版社 | 2005.08 | 预约/借 |
| 2 | TN470.7/1 | 超大规模集成电路测试---数字,存储器和混合信号系统 | (美)布什内尔 著 | 电子工业出版社 | 2005.8 | 预约/借 |